中圖儀器CEM3000系列納米形貌觀測掃描電鏡具有高度的靈活性和豐富的功能，包括多種檢測器、附件，可以滿足廣泛的研究和工業需求，包括半導體芯片失效分析。無論樣品尺寸、重量、導電性如何，掃描電鏡都可以讓您輕松應對挑戰，獲得出色的SEM圖像和SEM分析結果。

CEM3000系列納米形貌觀測掃描電鏡以“空間適配+性能強+易用高效"三大核心優勢，成為你的檢測增效利器。它操作系統簡便，使用過程簡單快捷。樣品一鍵裝入，自動導航和一鍵出圖能力（自動聚焦+自動消像散+自動亮度對比度）幫助用戶在短短幾十秒內就可獲取高清圖像，大大提升了使用效率。

一、產品特點

1、空間自由

（1）桌面級緊湊型設計，無需專用實驗室，日常工作臺即可安放，就近檢測無需奔波。

（2）支持靈活移機，一臺設備覆蓋實驗室、生產線、手套箱、車廂等多場景，批量檢測或跨工位使用更高效。

（3）抗振防磁硬核技術加持，常規電鏡難以耐受的復雜環境（如車間振動、磁場干擾）下，仍能穩定輸出數據，無需額外改造環境。

2、高效省心

（1）快速抽放氣設計+低真空模式（可選配），低真空狀態僅需40秒抽氣（CEM3000B機型），大幅減少等待時間，提升檢測吞吐量。

（2）一鍵出片+自動調節功能，無需專業運維團隊，普通員工即可快速上手，降低人力培訓成本，高效獲取高質量成像。

（3）鎢燈絲電子槍穩定性強、真空要求低，減少設備維護頻率與成本，持續保障生產/研發連續性。

3、精準適配：多機型+強性能，匹配多元檢測需求

（1）高分辨率成像+多種成像參數可選，微尺度特征（如60nm銀線）清晰呈現，滿足材料分析、缺陷檢測等專業級需求。

（2）大樣品倉設計（CEM3000A機型70mm×70mm），比肩立式電鏡容量，輕松容納大尺寸樣品或批量樣品，適配批量質檢場景。

（3）標配二次電子探頭+多象限背散射探頭，可選配能譜儀，實現微觀形貌與元素分析雙重功能，一站式解決多類型樣品檢測需求。

二、應用場景

1、材料科學：納米材料、高熵合金粉末等微觀結構分析，助力研發突破與性能優化。

2、新能源：太陽能電池板缺陷檢測、涂層性能評估，保障產品可靠性與發電效率。

3、生物醫療：微流控芯片表面形貌觀測、藥物載體研究，加速醫療器件與藥物研發進程。

4、工業質檢：錫球焊接質量檢測、精密器件表面粗糙度分析，提升產品合格率與品質管控精度。

三、產品型號

外型緊湊，空間適用性強，整機采用大量的抗干擾設計，避免使用環境造成的影響，拓寬了應用范圍。同時，該系列臺式電鏡具有非常豐富的自動調節功能，能夠對不同類型的樣品進行觀測，具有高空間分辨率。搭配不同的探頭，同時接收多種信號，對樣品進行分析。

CEM3000系列掃描電鏡為B端客戶提供“省空間、省時間、省成本"的檢測解決方案。無論是研發升級、批量質檢還是現場檢測，都能精準匹配你的需求。點擊咨詢按鈕，免費獲取機型選型建議+樣品檢測體驗名額，解鎖高效檢測新方式！

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