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共聚焦顯微鏡在材料科學領域中的優點
2023-07-21 在材料科學領域中，共聚焦顯微鏡以轉盤共聚焦光學系統為基礎，結合高穩定性結構設計和3D重建算法，共同組成測量系統。它可以通過使用空間針孔來阻擋散焦光來提高顯微圖像的光學分辨率和對比度。在圖像形成中，捕獲樣品中不同深度的多個二維圖像可重建三維結構（即光學切片過程）。該技術廣泛用于科學和工業界，典型的應用是生命科學、半導體檢查和材料科學。作為一種先進的光學顯微鏡技術，共聚焦顯微鏡可以揭示材料的微觀結構和特征，推動著材料科學的發展。首先，共聚焦顯微鏡相比傳統的顯微鏡技術具有更高的分辨...
影像儀飛拍功能改變傳統運行方式，測量效率提升5~10倍
2023-07-21 工業生產效率是衡量衡量工業生產活動有效性和效率的指標，它對于國家的經濟發展至關重要。當一家企業能以高生產效率生產產品時，它就能更好地滿足消費者的需求，進而提高盈利能力。高效率的工業生產不僅推動著技術創新，還促進著行業的進步：企業為了提高生產效率，就必須對生產過程進行不斷的優化和改進，這樣就促使著企業加強研發和創新能力，從而進一步提升產品的質量和技術含量。當然，提高工業生產效率不是一件簡單的事情。首先，要優化生產工藝和生產線的布局，以提高生產效率和制造質量。其次，企業需要引進先...
熟知一鍵式閃測儀的使用技巧，能讓你更好的進行使用
2023-07-17 一鍵式閃測儀是一種用于檢測電纜故障的儀器。閃測儀可分為數字直讀式和示波器式兩種。用閃測儀測故障時不需事先將高阻接地燒穿，故本方法被廣泛采用。采用雙遠心高分辨率光學鏡頭，結合高精度圖像分析算法，并融入一鍵閃測原理。CNC模式下，只需按下啟動鍵，儀器即可根據工件的形狀自動定位測量對象、匹配模板、測量評價、報表生成，真正實現一鍵式快速準測量。以下是一些使用技巧，幫助您更好地使用一鍵式閃測儀：1、準備工作：①確保閃測儀已充電或電池電量充足，以確保測試過程的連續性和可靠性。②清潔測試物...
cmm與omm影像測量儀的區別
2023-07-17 omm影像測量儀是我們通常所說的二維影像儀和2.5維影像儀；cmm是一種三坐標測量儀，通常稱為三維測量儀。它是一種可以在三個方向（X,Y,Z）上移動的探測器。兩者的區別在于：1、不同的工作原理omm影像測量儀的工作原理是通過數據線將硬件CCD和光柵尺捕獲的圖像傳輸到計算機的數據采集卡中，將光信號轉換為電信號，然后通過影像測量儀軟件在計算機顯示器上成像，并在計算機上快速測量。cmm三坐標測量儀是利用探頭與工件邊緣碰撞，獲得該位置的坐標值，然后減去測量頭的半徑，即工件的實際坐標值...
影像儀光學3D掃描測頭成像清晰，快速實現尺寸的精準測量
2023-07-17 激光三維成像技術是一種三維空間信息收集技術，有著高精度、高密度測點、信息豐富、高度自動化的數據處理和高度數字化產品等優點。這在測量領域有著廣闊的應用前景。三維激光掃描技術的優點是：1.高精度：數據采集精度高，能達到精度±1mm;2.速度快：三維掃描儀掃描速度可達百萬點/秒；3.直觀性強：收集的點云數據，不僅僅是空間信息（X,Y,Z)，還有顏色信息（R,G,B）以及反射率值(I)，給人一種場景再現的感覺；4.適用性強：受外界影響較小，無光條件下也可測量；5.結果多...
智能輪廓儀一機解決輪廓尺寸+螺紋全參數測量
2023-07-13 在汽車領域里的空調，發動機，車內循環系統，油料供給和制動系統中，多會引入螺桿類產品，其主要用于緊固密封連接。螺桿制造工藝的好壞直接關系到其部件的性能和使用壽命，因此需要對螺桿的形狀和尺寸進行質量管控。由于螺桿的結構特殊，需要檢測緊固件雙側輪廓的基本尺寸、形位公差（例如：同軸度、位置度），來評判是否符合螺桿的加工和磨削要求。同時需測量螺紋的全參數來評判嚙合間隙。根據螺桿測量需求，使用可兩軸聯動的SJ5780高精度智能螺紋輪廓掃描儀。多功能優勢博采眾長適用于各種應用場景。可測幾何...
粗糙度儀的作用原理概括
2023-07-07 一、粗糙度儀又叫表面粗糙度儀、表面光潔度儀、表面粗糙度檢測儀、粗糙度測量儀、粗糙度計、粗糙度測試儀等多種名稱。它具有測量精度高、測量范圍寬、操作簡便、便于攜帶、工作穩定等特點。針描法又稱觸針法。當觸針直接在工件被測表面上輕輕劃過時，由于被測表面輪廓峰谷起伏，觸針將在垂直于被測輪廓表面方向上產生上下移動，把這種移動通過電子裝置把信號加以放大，然后通過指零表或其它輸出裝置將有關粗糙度的數據或圖形輸出來。二、應用領域：(1)機械加工制造業，主要是金屬加工制造。粗糙度儀最初的產生就是...
臺階儀在太陽能光伏行業的應用
2023-06-28 太陽能作為應用廣、無排放、無噪聲的環保能源，在近些年迎來快速發展，而在各類型的太陽能電池及太陽能充電系統中，多會鍍一層透明的ITO導電薄膜，其鍍膜厚度對電池片的導電性能有著非常重要的影響，因而需要對鍍膜厚度進行檢測與管控。由于ITO膜具有一定的透光性，而硅基板具有較強的反射率，會對依賴反射光信號進行圖像重建的光學輪廓儀造成信號干擾導致ITO膜厚圖像重建失真，因此考慮采用接觸式輪廓儀對ITO膜厚進行測量，由于其厚度范圍從十幾納米到幾百納米，考慮到測量的同時不損傷樣件本身，因而采...

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